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ISSN1001-3806CN51-1125/TN 网站地图

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光学薄膜的几种测量方法

周九林

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光学薄膜的几种测量方法

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出版历程
  • 收稿日期:  1980-05-26
  • 刊出日期:  1980-12-25

光学薄膜的几种测量方法

  • 1. 209所

摘要: 光学薄膜的测量,是薄膜技术中十分重要而内容又极其丰富的课题。就科学技术发展的广义角度讲,测量技术是必不可少的“耳目”。量子论的创立者普朗克(M.Planck)曾指出:“物理知识的进步显然和物理仪器的精确度,以及使用量度的技术有密切的关系”(《从近代物理学来看宇宙》)。

English Abstract

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