光纤扫描法测量近红外光电器件的均匀性

凌金声

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光纤扫描法测量近红外光电器件的均匀性

凌金声

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光纤扫描法测量近红外光电器件的均匀性

凌金声

摘要: 本文描述了一个使用50微米芯径的光学纤维连接器,耦合单色仪的机械扫描系统,用以测量波长范围从0.6微米到1.1微米近红外光电器件的均匀性。本装置亦可用于测量象限硅尤电器件的均匀性、象限均衡性、串结因子、转换宽度。

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