高反射率测量中的测量精度与误差分析

庄大奎; 黄永楷; 杨天立

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高反射率测量中的测量精度与误差分析

庄大奎 , 黄永楷 , 杨天立

文章导航 > 激光技术 > 1989 > 13(4): 26-32

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高反射率测量中的测量精度与误差分析

1.
中国科学院上海光机所

作者简介: 庄大奎,男,1941年7月出生,助理研完员。从事激光物理研究;扬天立,男,1935年10月出生,高级工程师,室主任。从事激光电子学研究。.

The measuring precision and analysis error of high-reflectivity—measuring instrument

1.
Shanghai Institute of Optics and Fine Mechanics, Academia Sinica

摘要: 本文介绍了在研制红外高反射率测量仪过程中分析测量精度和误差的方法,使其总体性能达到并超过了预期的研制要求。
Abstract: A description is given of a method of analysis measu ring precision and instrumental error in developing infrared high—reflectivity—measuring instrument.The overall performance achieved and exceeded expectations.

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