光学元件吸收测量

魏红振; 李家镕

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光学元件吸收测量

魏红振 , 李家镕

文章导航 > 激光技术 > 1999 > 23(5): 284-287

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光学元件吸收测量

1.
华中理工大学激光技术国家重点实验室, 武汉 430074

作者简介: 魏红振,男,1969年4月出生。硕士研究生。主要从事光学薄膜及激光器件研究工作。.

Measurement of optical component absorption

1.
National Laboratory of Laser Technology, HUST, Wuhan, 430074

摘要: 采用量热法测量了光学元件的吸收,分析了元件表面反射对测量的影响,并测量了GaAs基片和GaAs高反镜的吸收,分析了测量误差。
- 量热法 /
- 光学薄膜 /
- 吸收测量
Abstract: For design of a high-energy laser system,it is important to measure the absorption properties of optical components.This paper presented calorimetry to measure the optical absorption and discussed the influence of the environmental factors and the interface reflection.As an example,the absorption of GaAs substrate and GaAs high reflective mirror were measured.Finally, the measurement error was analyzed.
- calorimeter /
- optical thin film /
- absorption measurement

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