XeF激光器中XeF2气体的监测

赖富相; 张永生

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XeF激光器中XeF2气体的监测

赖富相 , 张永生

文章导航 > 激光技术 > 2001 > 25(6): 469-472

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XeF激光器中XeF2气体的监测

赖富相¹,
张永生²

1.
昆明技术物理研究所, 昆明, 650223;
2.
西北核技术研究所, 西安, 710024

作者简介: 赖富相,男,1971年出生.硕士研究生.主要研究方向为热成像技术和光电检测..

XeF2 measurement in XeF laser

Lai Fuxiang¹,
Zhang Yongsheng²

1.
Kunming Institute of Physics, Kunming, 650223;
2.
Northwest Institute of Nuclear Technology, Xi'an, 710024

摘要: 给出了一种用吸收光谱法实时监测XeF激光器中XeF2气体压强的方法,标定了XeF2气体在波长为253.7nm处的吸收截面的大小Ó2253.27XeF=(1.55±0.05)×10-19cm2.用该监测系统测量了XeF2气体与3种作为激光器气室材料的反应速率,同时研究了XeF蓝绿激光器中输出激光能量与XeF2气体压强的关系.
- XeF2 /
- 吸收截面 /
- 准分子激光
Abstract: A method of non contact and real-time measurement for XeF2 pressure in the XeF laser cell is provided in this paper.The absorption cross section of XeF2 at wavelength of 253.7nm σ253.27XeF=(1.55±0.05)×10-19cm2 is obtained.Using the same measurement system,the suitable laser tube materials is choosed and the relations between laser output energy and the pressure of XeF2 are presented.
- XeF2 /
- absorption cross section /
- excimer

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XeF激光器中XeF2气体的监测

赖富相¹
张永生²

作者简介: 赖富相,男,1971年出生.硕士研究生.主要研究方向为热成像技术和光电检测.

1. 昆明技术物理研究所, 昆明, 650223;
2. 西北核技术研究所, 西安, 710024

收稿日期: 2000-08-28
录用日期: 2000-10-24
网络出版日期: 2001-11-25

关键词:

XeF2 /
吸收截面 /
准分子激光

摘要: 给出了一种用吸收光谱法实时监测XeF激光器中XeF2气体压强的方法,标定了XeF2气体在波长为253.7nm处的吸收截面的大小Ó2253.27XeF=(1.55±0.05)×10-19cm2.用该监测系统测量了XeF2气体与3种作为激光器气室材料的反应速率,同时研究了XeF蓝绿激光器中输出激光能量与XeF2气体压强的关系.