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ISSN1001-3806CN51-1125/TN 网站地图

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基于干涉条纹的激光准直技术的检测系统

胡长德 李咏强 周欣 诸葛晶昌 齐浩

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基于干涉条纹的激光准直技术的检测系统

    作者简介: 胡长德(1981- ),男,讲师,硕士,研究方向为纳米测量及现代传感技术.E-mail:hansenhu@yahoo.cn.
  • 中图分类号: TH741

Laser alignment measuring and testing equipment based on interference fringe

  • CLC number: TH741

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出版历程
  • 收稿日期:  2008-07-23
  • 录用日期:  2008-09-16
  • 刊出日期:  2009-10-25

基于干涉条纹的激光准直技术的检测系统

    作者简介: 胡长德(1981- ),男,讲师,硕士,研究方向为纳米测量及现代传感技术.E-mail:hansenhu@yahoo.cn
  • 1. 装备指挥技术学院 士官系 北京 102200;
  • 2. 天津大学 精密测试技术及仪器国家重点实验室 天津 300072

摘要: 为了获得被测导轨的直线度误差信息,采用半导体激光器发出的激光,经准直扩束后照射到楔形平板上,利用楔形平板上下表面的反射作用,将这束激光分解为交角2α的交叉光束,在这两条平行激光束交叉的范围内产生干涉条纹。将此干涉光作为准直测量的基准,用线阵CCD作为光电转换器件固定在接收靶上;检测接收靶处于被测导轨任一测量点时干涉条纹在接收靶上的位置,得到了该测量点与准直光束的偏移量。进行了重复性实验以及与光电自准直仪的比对实验。在测量长度842mm时,直线度误差18.96μm,测量长度最远可达14m。结果表明,样机的性能、指标基本达到了预定目标。

English Abstract

参考文献 (8)

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