532nm激光对面阵和线阵CCD损伤效应实验研究

廖海; 孙年春; 冯国英; 周传明

doi:10.3969/j.issn.1001-3806.2010.O5.018

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ISSN 1001-3806CN 51-1125/TN 网站地图

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532nm激光对面阵和线阵CCD损伤效应实验研究

廖海 , 孙年春 , 冯国英 , 周传明

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引用本文:

Citation:

532nm激光对面阵和线阵CCD损伤效应实验研究

1.
四川大学, 电子信息学院, 成都, 610064;
2.
中国工程物理研究院, 科技委, 绵阳, 621900

作者简介: 廖海(1985- ),男,硕士研究生,现主要从事光与物质相互作用的研究..

通讯作者: 孙年春, E-mail.8178137@163.com ;

中图分类号: TN977

Experimental study on 532nm laser-induced failure of array and linear CCD

1.
College of Electronics and Information Technology, Sichuan University, Chengdu 610064, China;
2.
Science and Technology Commission, China Academy of Engineering Physics, Mianyang 621900, China

Corresponding author: SUN Nian-chun, E-mail.8178137@163.com ;

CLC number: TN977

摘要: 为了研究面阵CCD和线阵CCD由结构差异所致激光损伤效应的区别,针对这两种类型CCD器件进行了机理分析和对比实验研究。分别测量出波长为532nm的激光对线阵CCD和面阵CCD图像传感器的光饱和串音阈值、所有像素串音阈值和硬损伤阈值。结果表明,面阵CCD的光饱和串音阈值和永久破坏阈值比线阵CCD低,而串音扩散到所有像素的阈值高于后者。反映出线阵CCD由于其1维结构更能抵抗激光的干扰和破坏,而面阵CCD在抵御饱和串音在像素间扩散上比线阵CCD有优势。
- 激光技术 /
- 损伤阈值 /
- 饱和串音 /
- 面阵CCD /
- 线阵CCD
Abstract: The mechanism of damage on the linear CCD and array CCD was analyzed. Under the irradiation of 532nm laser, the crosstalk threshold, all-pixel crosstalk threshold and totally damaged threshold of both the types of CCDs were measured. Experimental results show that the crosstalk threshold and permanent damage threshold of array CCD are higher than those of linear CCD,while the all-pixel crosstalk threshold of array CCD is lower.This reflects the linear CCD is more resistant to laser interference and sabotage due to its one-dimension structure, while the array CCD is better at resisting the spread of crosstalk between pixels.
- laser technique /
- damage threshold /
- saturation crosstalk /
- array CCD /
- linear CCD

[1]	WANG Sh Y.Study on laser-induced CCD detector vulnerability and survivability and fussy synthetic evaluation on CCD jamming effects[D].Changchun:Changchun Institute of Optics,Fine Machanics and Physics,Chinese Academy,Sciences,2002:13-14(in Chinese).
[2]	JIANG J J,LUO F,CHEN J G.Research on femtosecond laser induced damage to CCD[J].High Power Laser and Particle Beams,2005,17(4):515 -517(in Chinese).
[3]	GUO Sh F,CHENG X A,FU X Q,et al.Failure of array CCD irradiated by high-repetitive femto-second laser[J].High Power Laser and Particle Beams,2007,19(11):1783-1786(in Chinese).
[4]	ZHONG H R,LIU T H,LU Q Sh,et al.Analysis of threshold of laser damage in photoelectric detectors[J].Laser Journal,2001,22(4):1-5(in Chinese).
[5]	ZHONG H R,LU Q Sh,WEN T F,et al.Review on the laser-induced damage mechanism of CCD detector[J].High Power Laser and Particle Beams,1998,10(4):537-542(in Chinese).
[6]	CAI W G,LI Y Y,XU Zh H.Technology and application of CCD[M].Tianjin:Tianjin University Press,2000:4-5(in Chinese).
[7]	WANG Sh Y,FU Y Y,GUO J.Study of disturbing effect on array CCD detectors irradiated locally by laser[J].Semiconductor Optoelectronics,2002,23(2):106-135(in Chinese).
[8]	YOU M.Interaction of femtosecond laser pulses with transparent materials[D].Xi'an:Xi'an Institute of Optics and Precision Mechanics,Chinese Academy of Sciences,2005:35-40(in Chinese).
[9]	XIA D H,WU Y H,LI Sh K.Study of transmission depth in film materials to heat radioactive wave[J].Journal of Thermal Science and Technology,2003,2(3):271-274(in Chinese).
[10]	JIANG N,ZHANG Ch,NIU Y X,et al.Numerical simulation of pulsed laser induced damage on CCD arrays[J].Laser Infrared,2008,38(10):5001-5004(in Chinese).
[11]	KRUER M,ALLEN R,ESTEROWITZ L,et al.Laser damage in silicon photodiodes[J].Opt Quant Electron,1976,8(5):453-458.

[1]	钟杰 , 翁继东 , 罗振雄 , 刘振清 , 叶雁 , 李作友 . 激光辐照面阵CCD探测器的杂散光斑现象. 激光技术, 2010, 34(6): 835-838. doi: 10.3969/j.issn.1001-3806.2010.06.031
[2]	张超 , 张伟 , 王滨 , 万勇 , 薛亮平 , 李燕凌 . 不同波长激光对CCD的干扰性实验研究. 激光技术, 2014, 38(6): 826-829. doi: 10.7510/jgjs.issn.1001-3806.2014.06.022
[3]	赵育良 , 许兆林 , 李开端 . 基于CCD的激光微位移测量系统研究. 激光技术, 2003, 27(1): 73-75.
[4]	李玉瑶 , 王菲 , 孙同同 . 薄膜激光损伤阈值标定技术. 激光技术, 2021, 45(6): 729-734. doi: 10.7510/jgjs.issn.1001-3806.2021.06.009
[5]	黄进 , 吕海兵 , 王海军 , 赵松楠 , 王韬 , 蒋晓东 , 袁晓东 , 郑万国 . 利用紫外激光处理提高熔石英损伤阈值的研究. 激光技术, 2009, 33(3): 297-299,313.
[6]	郑业亮 , 胡以华 , 赵楠翔 , 任晓东 . 脉宽及重频对HgCdTe探测器损伤阈值影响分析. 激光技术, 2018, 42(2): 265-270. doi: 10.7510/jgjs.issn.1001-3806.2018.02.024
[7]	王云萍 , 侯军燕 , 袁春 , 康文运 , 陈安民 , 张鲁薇 . 飞秒激光对多光谱滤波片的损伤阈值研究. 激光技术, 2022, 46(5): 697-701. doi: 10.7510/jgjs.issn.1001-3806.2022.05.020
[8]	娄德元 , 熊厚 , 伍义刚 , 翟中生 , 陈列 , 戚得众 , 杨奇彪 , 刘顿 . 不同脉宽纳秒激光致铝材损伤特性与打孔机理. 激光技术, 2017, 41(3): 427-432. doi: 10.7510/jgjs.issn.1001-3806.2017.03.024
[9]	李玉瑶 , 张婉怡 , 刘喆 , 李美萱 , 付秀华 . S-on-1测量方式下薄膜激光损伤的累积效应. 激光技术, 2018, 42(1): 39-42. doi: 10.7510/jgjs.issn.1001-3806.2018.01.008
[10]	李尧 , 吴涓 , 林佶翔 , 王雄飞 , 朱辰 . 光纤端面脉冲激光诱导损伤测试实验研究. 激光技术, 2009, 33(5): 490-492,496. doi: 10.3969/j.issn.1001-3806.2009.05.025
[11]	戴罡 , 陆建 , 王斌 , 刘剑 , 倪晓武 . 脉宽1ms和10ns的激光损伤光学薄膜元件的比较分析. 激光技术, 2011, 35(4): 477-480,542. doi: 10.3969/j.issn.1001-3806.2011.04.010
[12]	胡长德 , 李咏强 , 周欣 , 诸葛晶昌 , 齐浩 . 基于干涉条纹的激光准直技术的检测系统. 激光技术, 2009, 33(5): 522-525. doi: 10.3969/j.issn.1001-3806.2009.05.030
[13]	冯伟伟 , 马国利 , 贾天俊 , 程翔 , 陈立刚 . 2维光束全偏振参量测量技术研究. 激光技术, 2011, 35(5): 715-717. doi: 10.3969/j.issn.1001-3806.2011.05.037
[14]	高胜淼 , 闫珂柱 , 韩培高 , 许春玉 , 王荣新 . 飞秒激光诱导硅材料表面周期结构的研究. 激光技术, 2015, 39(3): 395-398. doi: 10.7510/jgjs.issn.1001-3806.2015.03.025
[15]	雷震 , 张立文 , 张晓玲 , 孟庆端 . 高斯激光辐照焦平面探测器温度场分析与仿真. 激光技术, 2016, 40(4): 516-520. doi: 10.7510/jgjs.issn.1001-3806.2016.04.013
[16]	张超 , 王滨 , 廖志烨 , 衣学斌 , 万勇 , 张伟 . 脉冲激光干扰面阵CCD成像系统的实验研究. 激光技术, 2014, 38(5): 619-622. doi: 10.7510/jgjs.issn.1001-3806.2014.05.009
[17]	陶华锋 , 杨忠孝 , 宁永功 , 屠晶景 , 徐洪艳 . 激光处理GaN薄膜的研究. 激光技术, 2005, 29(6): 652-653,656.
[18]	周冰 , 贺宣 , 刘贺雄 , 李秉璇 , 张炎 . 激光辐照非制冷微测辐射热计的理论研究. 激光技术, 2020, 44(4): 411-417. doi: 10.7510/jgjs.issn.1001-3806.2020.04.003
[19]	金清理 , 柯见洪 , 薛漫芝 . He-Ne激光对人体伤害的分析及防护措施. 激光技术, 2003, 27(2): 153-154,157.
[20]	苏平 , 牛燕雄 , 李大乾 , 牛海莎 , 李易难 , 张超 . 基于面阵CCD的激光告警系统的图像采集与处理. 激光技术, 2013, 37(3): 394-399. doi: 10.7510/jgjs.issn.1001-3806.2013.03.028

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532nm激光对面阵和线阵CCD损伤效应实验研究

通讯作者: 孙年春, E-mail.8178137@163.com;

作者简介: 廖海(1985- ),男,硕士研究生,现主要从事光与物质相互作用的研究.

1. 四川大学, 电子信息学院, 成都, 610064;
2. 中国工程物理研究院, 科技委, 绵阳, 621900

收稿日期: 2009-09-18
录用日期: 2009-10-23
网络出版日期: 2010-09-25

关键词:

摘要: 为了研究面阵CCD和线阵CCD由结构差异所致激光损伤效应的区别,针对这两种类型CCD器件进行了机理分析和对比实验研究。分别测量出波长为532nm的激光对线阵CCD和面阵CCD图像传感器的光饱和串音阈值、所有像素串音阈值和硬损伤阈值。结果表明,面阵CCD的光饱和串音阈值和永久破坏阈值比线阵CCD低,而串音扩散到所有像素的阈值高于后者。反映出线阵CCD由于其1维结构更能抵抗激光的干扰和破坏,而面阵CCD在抵御饱和串音在像素间扩散上比线阵CCD有优势。