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ISSN1001-3806CN51-1125/TN 网站地图

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一种高分辨率ITO线路缺陷检测系统

沈淦松 叶玉堂 李昌海

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一种高分辨率ITO线路缺陷检测系统

    作者简介: 沈淦松(1988- ),男,硕士研究生,现主要从事机器视觉及工业控制的研究..
    通讯作者: 叶玉堂, ytye@uestc.edu.cn
  • 中图分类号:

    TP274

A high resolution defect detection system for ITO lines

    Corresponding author: YE Yu-tang, ytye@uestc.edu.cn ;
  • CLC number:

    TP274

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出版历程
  • 收稿日期:  2012-05-10
  • 录用日期:  2012-06-14
  • 刊出日期:  2013-01-25

一种高分辨率ITO线路缺陷检测系统

    通讯作者: 叶玉堂, ytye@uestc.edu.cn
    作者简介: 沈淦松(1988- ),男,硕士研究生,现主要从事机器视觉及工业控制的研究.
  • 1. 电子科技大学光电信息学院, 成都 610054

摘要: 为了满足微米量级氧化铟锡线路检测的需求,提出了一种高分辨率的用于检测氧化铟锡线路缺陷的检测系统,其检测精度可达2m.采用高分辨率线阵CCD相机以及中长焦镜头以获得较高的图像放大率与图像精度;通过分离相机与镜头及镜头倒置以获得较大的动态范围和较好的调制转换函数优化值;采用直线电机提高系统的运动精度与稳定度;同时采用大理石底座以减小周围环境的振动等对系统精度的影响.通过具体分析系统精度与速度要求,再考虑现场环境,对不同结构系统的优劣势进行了研究与论证.结果表明,该系统具有精度高、稳定性高、操作灵活等显著特点.

English Abstract

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