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基于光子混频连续太赫兹波的厚度检测

刘子烨 刘建军 洪治

引用本文:
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基于光子混频连续太赫兹波的厚度检测

    作者简介: 刘子烨(1989-),女,硕士研究生,主要从事太赫兹波成像技术的研究.
    通讯作者: 洪治, hongzhi@cjlu.edu.cn
  • 基金项目:

    国家自然科学基金资助项目(60576042;61377108)

  • 中图分类号: TN247

Thickness measurement by means of continuous wave terahertz based on photomixing

    Corresponding author: HONG Zhi, hongzhi@cjlu.edu.cn
  • CLC number: TN247

  • 摘要: 为了将光子混频的连续太赫兹波透射成像系统应用于样品厚度检测中,采用该系统获得的相位信息对样品进行了2维厚度测量。利用两个外腔半导体结构的激光器搭建了基于光子混频的连续太赫兹波透射成像系统,并利用X-Y 2维电动平移台放置样品进行点点扫描成像。该系统可同时获得样品的幅度信息和相位信息,在太赫兹波辐射频率0.47THz时,系统信噪比可达68dB。计算得出的厚度值与实际样品的厚度值最大相差0.02mm;另外还分析了平行平面样品干涉效应和样品不同透射强度对厚度测量的影响。结果表明,样品折射率越高,平行平面干涉效应对厚度测量影响越大;样品透射系数越大,测量精度也越高。当样品太赫兹波透射系数大于0.5时,厚度测量精度优于2.0%。
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出版历程
  • 收稿日期:  2015-05-22
  • 录用日期:  2015-06-08
  • 刊出日期:  2016-07-25

基于光子混频连续太赫兹波的厚度检测

    通讯作者: 洪治, hongzhi@cjlu.edu.cn
    作者简介: 刘子烨(1989-),女,硕士研究生,主要从事太赫兹波成像技术的研究
  • 1. 中国计量大学 太赫兹技术与应用研究所, 杭州 310018
基金项目:  国家自然科学基金资助项目(60576042;61377108)

摘要: 为了将光子混频的连续太赫兹波透射成像系统应用于样品厚度检测中,采用该系统获得的相位信息对样品进行了2维厚度测量。利用两个外腔半导体结构的激光器搭建了基于光子混频的连续太赫兹波透射成像系统,并利用X-Y 2维电动平移台放置样品进行点点扫描成像。该系统可同时获得样品的幅度信息和相位信息,在太赫兹波辐射频率0.47THz时,系统信噪比可达68dB。计算得出的厚度值与实际样品的厚度值最大相差0.02mm;另外还分析了平行平面样品干涉效应和样品不同透射强度对厚度测量的影响。结果表明,样品折射率越高,平行平面干涉效应对厚度测量影响越大;样品透射系数越大,测量精度也越高。当样品太赫兹波透射系数大于0.5时,厚度测量精度优于2.0%。

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