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缺陷层厚度对1维光子晶体孪生缺陷模的影响

王吉科 夏海燕 闫珂柱 姜迎迎

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缺陷层厚度对1维光子晶体孪生缺陷模的影响

    作者简介: 王吉科(1981- ),男,硕士研究生,主要从事1维光子晶体理论方面的研究..
    通讯作者: 王吉科, yankezhu@126.com
  • 中图分类号: O436

Effect of thickness of defect layer on dual defect modes of 1-D photonic crystal

    Corresponding author: WANG Ji-ke, yankezhu@126.com ;
  • CLC number: O436

  • 摘要: 为了研究由1维特定掺杂光子晶体生成的孪生缺陷模与缺陷层厚度的关系,采用特征矩阵的方法进行了理论分析。结果表明,当整体改变这种缺陷层厚度时,孪生缺陷模低频和高频模位置的变化情况各不相同;当仅改变缺陷层的正折射率材料的厚度时,随着厚度增加,孪生缺陷模红移;当仅改变缺陷层负折射率材料的厚度时,随着厚度增加,缺陷模蓝移;并且孪生缺陷模透射率的变化也很复杂。这一结果为设计有特殊用途的光子晶体器件提供了理论依据。
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出版历程
  • 收稿日期:  2008-05-05
  • 录用日期:  2008-07-04
  • 刊出日期:  2009-08-25

缺陷层厚度对1维光子晶体孪生缺陷模的影响

    通讯作者: 王吉科, yankezhu@126.com
    作者简介: 王吉科(1981- ),男,硕士研究生,主要从事1维光子晶体理论方面的研究.
  • 1. 曲阜师范大学, 物理工程学院, 曲阜, 273165;
  • 2. 济宁学院, 物理系, 曲阜, 273155

摘要: 为了研究由1维特定掺杂光子晶体生成的孪生缺陷模与缺陷层厚度的关系,采用特征矩阵的方法进行了理论分析。结果表明,当整体改变这种缺陷层厚度时,孪生缺陷模低频和高频模位置的变化情况各不相同;当仅改变缺陷层的正折射率材料的厚度时,随着厚度增加,孪生缺陷模红移;当仅改变缺陷层负折射率材料的厚度时,随着厚度增加,缺陷模蓝移;并且孪生缺陷模透射率的变化也很复杂。这一结果为设计有特殊用途的光子晶体器件提供了理论依据。

English Abstract

参考文献 (13)

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